貴金屬礦檢測(cè)的核心痛點(diǎn)

1. 含量極低：

• 巖金礦：Au常為1-10 g/t（≈1-10 ppm）

• 砂金礦：可能低至0.1 g/t

• 鉑族元素（Pt、Pd等）：多低于1 ppm

2. 干擾因素多：

• 共生礦物（如黃鐵礦包裹金）

• 基體效應(yīng)（銅銀共生礦中的信號(hào)重疊）

手持式XRF光譜儀

野外快速篩查金礦（Au）、銀礦（Ag）等，檢測(cè)限通常為5~50 ppm。

無(wú)法直接檢測(cè)鉑族元素（如Pt、Pd需高性能型號(hào)）。

便攜、無(wú)損、速度快（10秒/點(diǎn)）。

操作避坑指南

1. 樣品制備：

• XRF檢測(cè)面需打磨至400目以上

• 避免使用含鉛拋光劑（干擾Au信號(hào)）

2. 校準(zhǔn)驗(yàn)證：

• 每日用標(biāo)樣（如GSA-8A金礦標(biāo)樣）校準(zhǔn)

• 當(dāng)檢測(cè)值接近設(shè)備檢出限，必須實(shí)驗(yàn)室復(fù)檢

3. 數(shù)據(jù)解讀：

• 手持XRF的"Au"峰值需排除Hg干擾（常見于銻金礦）