Thick 8000鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家@采購(gòu)熱點(diǎn),鍍層測(cè)厚儀,膜厚測(cè)試儀,X-ray測(cè)厚儀,晶圓鍍鋁測(cè)試儀,真空蒸鍍鋁層厚度測(cè)試儀,晶圓鋁膜厚度測(cè)試儀,晶圓濺射鋁膜測(cè)試儀本公司4月28號(hào)13點(diǎn)48分報(bào)道:Thick 8000鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家@采購(gòu)熱點(diǎn)
(/c137137/products/d.html)
YI、Thick 8000鍍層測(cè)厚儀概述:
Thick 8000鍍層測(cè)厚儀是門(mén)]針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的款新型。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定,黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)。
二、Thick 8000鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì):
1、精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
2、的樣品觀測(cè)系統(tǒng)
3、的圖像識(shí)別
4、輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
5、四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換
6、雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞
7、采用大面積高分辨率探測(cè)器,降低檢出限,提高測(cè)試精度
8、全自動(dòng)智能控制方式,-鍵式操作
9、開(kāi)機(jī)自動(dòng)自檢、復(fù)位
10、開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測(cè)試平臺(tái),方便放樣
11、關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦
12、直接點(diǎn)擊全景或局部圖像選取測(cè)試點(diǎn)
13、點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕,自動(dòng)完成測(cè)試并顯示結(jié)果
三、Thick 8000鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo):
1、分析元素范圍:硫(S) ~鈾(U)
2、同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)5層鍍層
3、檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測(cè)試0.005 μ m
4、分析含量:般為2ppm到99.9%
5、鍍層厚度:般在50 μ m以內(nèi)( 每種材料有所不同)
6、重復(fù)性:可達(dá)0.1%
7、穩(wěn)定性:可達(dá)0. 1%
8、SDD探測(cè)器:分辨率低至135eV
9、的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達(dá)0. 1mm
10、小光斑:達(dá)0.1mm
11、樣品觀察:配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
12、準(zhǔn)直器:0.3x 0.05mm、中0. 1mm、中0.2mm與中0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
13、尺寸:690 (W) x575(D) x660 (H)mm
14、樣品室尺寸:520(W) x395 (D) x150 (H)mm
15、樣品臺(tái)尺寸: 393 (W) x258 (D)mm
16、X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度:額定速度200mm/s高速度333.3mm/s
17、X/Y/Z平臺(tái)定位精度:小于0. 1um
18、操作環(huán)境濕度:≤90%
19、操作環(huán)境溫度:15C - 30C
四、在計(jì)數(shù)率的情況下能分辨相近元素,大大提高測(cè)試穩(wěn)定性、降低檢測(cè)限:
五、11次測(cè)量結(jié)果( Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對(duì)比如下:

主營(yíng)產(chǎn)品:公司業(yè)從事光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測(cè)試及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。包含:X熒光光譜儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,光電直讀光譜儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,飛行時(shí)間質(zhì)譜儀,紅外光譜儀,原子吸收分光光度計(jì),原子熒光分光光度計(jì)等
Main products: the company specializes in the R & D, production and sales of spectrum, chromatography, mass spectrometry and other analytical testing instruments and software. Including: X-ray fluorescence spectrometer, gas chromatography mass spectrometry, photoelectric direct reading spectrometer, inductively coupled plasma emission spectrometer, liquid chromatography mass spectrometry, time of flight mass spectrometer, infrared spectrometer, atomic absorption spectrophotometer, atomic fluorescence spectrophotometer, etc
相關(guān)產(chǎn)品:ROHS:RoHS2.0檢測(cè)儀,RoHS1.0測(cè)試儀,天瑞儀器RoHS2.0檢測(cè)方案,RoHS2.0十項(xiàng)檢測(cè)儀,RoHS2.0鄰苯二甲酸酯4P測(cè)試儀,天瑞儀器RoHS2.0快速篩查檢測(cè)方案,天瑞儀器RoHS2.0(XRF+GCMS)實(shí)驗(yàn)室方案,天瑞儀器RoHS2.0(XRF+LC)方案,天瑞儀器RoHS2.0(XRF+PY熱裂解)檢測(cè)方案,RoHS2.0新增4種鄰苯篩查解決方案,紡織品6P 電線電纜7P 玩具16p 鄰苯二甲酸酯解決方案,RoHS2.0指令應(yīng)對(duì)站式檢測(cè)方案生產(chǎn)商,RoHS2.0鄰苯塑化劑增塑劑檢測(cè)儀器,RoHS2.0新增4種鄰苯用分析儀
光譜儀:X射線熒光光譜儀,X射線熒光光譜儀全元素分析儀,天瑞儀器X熒光光譜儀,能量色散X射線熒光光譜儀,冶金冶煉鋼鐵有色金屬X熒光光譜元素分析儀,波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
手持光譜儀:天瑞手持式光譜儀,手持式,天瑞手持式土壤重金屬檢測(cè)儀,手持式合金礦石土壤檢測(cè)儀,便攜式X熒光土壤重金屬分析儀,土壤重金屬污染普查快速分析儀,土壤重金屬污染應(yīng)急處理檢測(cè)儀,便攜式X熒光光譜儀廠家天瑞儀器
鍍層:鍍層測(cè)厚儀,膜厚測(cè)試儀,X-ray測(cè)厚儀,晶圓鍍鋁測(cè)試儀,真空蒸鍍鋁層厚度測(cè)試儀,晶圓鋁膜厚度測(cè)試儀,晶圓濺射鋁膜測(cè)試儀,鋁塑膜厚度測(cè)試儀,鋁塑膜鋁層厚度測(cè)試儀,鋁塑膜R角鋁層殘余厚度分析儀,鋰電池鋁塑膜鋁層厚度檢測(cè)儀,軟包電池鋁塑膜鋁層厚度檢測(cè)儀,X-ray膜厚測(cè)試儀,鍍層測(cè)厚儀國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)制定單位
冷熱沖擊:熱流儀,超快速冷冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),熱流儀超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),5G通信行業(yè)熱流儀超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),半導(dǎo)體芯片老化熱流儀超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),傳感器熱流儀超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),航空航天汽車通信生物科技電子熱流儀超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),手機(jī)平板LED半導(dǎo)體芯片熱流儀/超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
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