EDX成分分析儀是天瑞儀器公司為合金測(cè)試專門開發(fā)的儀器類型。 
具有測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。 
合金分析儀同時(shí)具有合金測(cè)試、合號(hào)分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。 
檢測(cè)樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。

EDX成分分析儀 性能特點(diǎn):

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到際*水平 
針對(duì)合金的測(cè)試而開發(fā)的專用配件 
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 
天瑞儀器產(chǎn)品—信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號(hào)處理能力25倍以上 
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好 
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍 
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的致性； 
高信噪比的電子線路單元 
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣 
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制； 
內(nèi)置高清晰攝像頭 
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）目了然

EDX成分分析儀 標(biāo)準(zhǔn)配置：

合金測(cè)試高效超薄窗X光管 
超薄窗大面積的SDD探測(cè)器
信噪比增強(qiáng)器 SNE
光路增強(qiáng)系統(tǒng) 
高信噪比電子線路單元 
內(nèi)置高清晰攝像頭 
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片 
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置 
三重安保護(hù)模式 
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型 
多變量非線性回歸程序 
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證 
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm 
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

EDX成分分析儀 技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U） 
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 
同時(shí)分析元素：次性可測(cè)幾十種元素 
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒 
能量分辨率為：（140±5）eV 
管壓：5KV-50KV 
管流：50uA-1000uA

EDX成分分析儀 應(yīng)用領(lǐng)域：

檢測(cè)以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品