XRF電鍍層測(cè)厚儀Thick8000
1、Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
2、性能優(yōu)勢(shì)
精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
的樣品觀測(cè)系統(tǒng)
的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測(cè)器,降低檢出限,提高測(cè)試精度
自動(dòng)智能控制方式,鍵式操作!
開機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位
開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測(cè)試平臺(tái),方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦
直接點(diǎn)擊景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕,自動(dòng)完成測(cè)試并顯示測(cè)試結(jié)果
3、技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測(cè)試0.005μm
分析含量:般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測(cè)器:分辨率低至135eV
采用的微孔準(zhǔn)直技術(shù),小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃
銅鍍鎳測(cè)試圖譜:
銅鍍鎳測(cè)試結(jié)果:
樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
吊扣 | 100 | 19.321 |
吊扣2# | 100 | 19.665 |
吊扣3# | 100 | 18.846 |
吊扣4# | 100 | 19.302 |
吊扣5# | 100 | 18.971 |
吊扣6# | 100 | 19.031 |
吊扣7# | 100 | 19.146 |
平均值 | 100 | 19.18314 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0 | 0.273409 |
相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0 | 1.425257 |
鍍層測(cè)厚儀Thick800A
XRF鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì):
快速:1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度,并達(dá)到測(cè)量精度要求。
方便:X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口際上的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器,能量分辨率更優(yōu)于135eV,測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補(bǔ)充液氮,操作使用更加方便,并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
無損:測(cè)試前后,樣品無任何形式的變化。
直觀:實(shí)時(shí)譜圖,可直觀顯示元素含量。
測(cè)試范圍廣:X熒光光譜儀,是種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U。
性高:由于測(cè)試過程無人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測(cè)量的性更高。
滿足不同需求:測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強(qiáng)大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。
性價(jià)比高:相比化學(xué)分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡(jiǎn)易:對(duì)人員技術(shù)要求較低,操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
軟件圖片:
技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析檢出限可達(dá)2ppm,薄可測(cè)試0.005μm。
分析含量般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%
工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
核心部件(美進(jìn)口)
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
天瑞儀器膜厚測(cè)試儀Thick800A圖譜
電鍍液檢測(cè)解決方案
電鍍,就其本質(zhì),就是通過電化學(xué)的方法,將種金屬或金屬化合物鍍覆到基體上的工藝。電鍍的基本原材料就是鋅、鎳、銅、鉻及金、銀等重金屬。 由于電鍍?cè)?,這些金屬是不能完變成我們所需要的鍍層,其中有相當(dāng)部分將變成污染物存在于電鍍廢水中、污泥中,也有部分氣化形成有害氣體,形成對(duì)環(huán)境的重金屬污染。為了滿足電鍍行業(yè)污染物重金屬的測(cè)試天瑞儀器有限公司特別推出EDX1800B用于電鍍液測(cè)試:
性能特點(diǎn)
下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器:提高分析的性
新代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量般為1ppm到99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:160±5eV
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
某電鍍廠樣品檢測(cè):
某電鍍廠電鍍液測(cè)試圖譜:
元素 | Cu | Sn |
去離子水-1 | 2.0440 | 23.1712 |
去離子水-2 | 2.0699 | 23.1597 |
去離子水-3 | 2.0711 | 23.2090 |
去離子水-4 | 2.0677 | 23.2053 |
去離子水-5 | 2.0697 | 23.3302 |
去離子水-6 | 2.0564 | 23.3064 |
去離子水-7 | 2.0593 | 23.2536 |
平均值 | 2.0626 | 23.2336 |
標(biāo)準(zhǔn)方差 | 0.0100 | 0.0656 |
RSD(%) | 0.4837 | 0.2822 |
測(cè)試結(jié)果,重復(fù)性非常好,媲美化學(xué)手段
廠家介紹
是專業(yè)生產(chǎn)ROHS檢測(cè)儀(EDX1800B),氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀(GCMS),鍍層測(cè)厚儀(Thick800A),等離子發(fā)射光譜儀(ICP2060T),x射線測(cè)厚儀,ROHS檢測(cè)設(shè)備,X射線鍍層測(cè)厚儀,,ROHS測(cè)試儀,液相色譜儀,ROHS2.0新增4項(xiàng)分析儀,手持式礦石分析儀,雙酚A檢測(cè)儀,X射線熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測(cè)儀, ROHS儀器,手持式(EXPLORER5000)等分析儀器,涉及的儀器設(shè)備主要有Thick8000、Thick800A 、EDX1800B
鍍層測(cè)厚儀展廳
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