1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。*可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。*薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置，可同時對多層鍍層及金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量。此外，適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

 2.測量原理如圖1所示，物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照線后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。測定主機(jī) (高度900mm,重125kg左右)(1) 樣品室SFT9200可移動量: 220 (W) × 150(D) × 150(H) mmSFT9250可移動量: 400 (W) × 300(D) × 50(H) mmSFT9255可移動量: 400 (W) × 300(D) × 15 (H) mm樣品種類: 固體，液體檢測環(huán)境: 大氣樣品觀察: 彩色CCD攝像頭X射線安機(jī)構(gòu): 樣品室蓋按鍵開啟，測樣時自動上鎖安裝環(huán)境：通風(fēng)良好，溫度10～35℃，濕度35～80%(2) X射線發(fā)生部照射方式: 由上往下照射（避免凹凸樣品不能測試）X射線管 : W 靶管電壓 : 45Kv管電流 : 1mA冷卻方式: 空冷次濾波器: Al固定二次濾波器: Co選配照射區(qū)域(5個標(biāo)準(zhǔn)配置): 0.1,0.2,0.3mm 圓型0.2×0.05 0.05×0.02mm 方型(3) 檢測器檢測器形式: 比例計(jì)數(shù)管(4)校正自動校正（X射線強(qiáng)度，X射線能量）（5）X-Y-Z軸自動

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動平臺。是款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

技術(shù)指標(biāo)

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

是具有自主知識產(chǎn)權(quán)的內(nèi)膜厚儀生產(chǎn)型高科技企業(yè)，注冊資本46176萬。旗下?lián)碛斜本┌铞蝹I(yè)技術(shù)開發(fā)有限公司和深圳市天瑞儀器有限公司兩家資子公司。總部位于風(fēng)景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司專業(yè)從事光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。