該儀器專門針對(duì)電鍍及表面處理行業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量、膜厚檢測(cè)、鍍層元素分析和電鍍液的成分分析。

1、上照式，X射線光線從上方照射到檢測(cè)樣品上，對(duì)樣品的形狀沒(méi)有要求，可以滿足不規(guī)則樣品的測(cè)試需求，而且更適合測(cè)量硅晶片等不適合接觸測(cè)量臺(tái)的樣品；

2、狹縫（準(zhǔn)直器），主要是限制X射線的照射面積，可以調(diào)節(jié)X射線的尺寸，以滿足各種尺寸樣品的測(cè)試需求。儀器可以提供4種準(zhǔn)直器，分別是0.1mm、0.2mm、0.3mm、0.5mm四種，小直徑達(dá)0.1mm，可以輕松實(shí)現(xiàn)精小部位的測(cè)試，同時(shí)可根據(jù)測(cè)試需求電動(dòng)切換準(zhǔn)直器，根據(jù)樣品的大小，選擇合適的準(zhǔn)直器，得到足夠的激發(fā)強(qiáng)度，使測(cè)量更加；

3、樣品測(cè)試平臺(tái)，儀器可分為手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)和高精度的可編程的自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，重復(fù)定位的精度小于0.005mm；

4、高分辨率探測(cè)器，運(yùn)用的SI-Pin探測(cè)器，能量分辨率遠(yuǎn)好于比例接收器，適合測(cè)量多層鍍層及干擾比較大的鍍層成分，使測(cè)量結(jié)果更加；

5、良好的射線屏蔽作用，X射線，只有在鉛玻璃罩完關(guān)閉時(shí)，X射線才會(huì)開(kāi)啟，保護(hù)操作人員不會(huì)受到輻射的危險(xiǎn)。

技術(shù)參數(shù)

測(cè)厚技術(shù)：X射線熒光測(cè)厚技術(shù)

測(cè)試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層

測(cè)量下限：0.003um

測(cè)量上限：30-50um（以材料元素判定）

測(cè)量層數(shù)：10層

測(cè)量用時(shí)：30-120秒

探測(cè)器類型：Si-PIN電制冷   

探測(cè)器分辨率：145eV

高壓范圍：0-50Kv，50W

X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；

光管靶材：Mo靶；

濾光片：專用3種自動(dòng)切換；

CCD觀察：260萬(wàn)像素

微移動(dòng)范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

根據(jù)電路層數(shù)分類：分為單面板、雙面板和多層板。常見(jiàn)的多層板般為4層板或6層板，復(fù)雜的多層板可達(dá)幾十層。PCB（ Printed Circuit Board），中文名稱為印制電路板，又稱印刷線路板，是重要的電子部件，是電子元器件的支撐體，是電子元器件電氣連接的載體。由于它是采用電子印刷術(shù)制作的，故被稱為“印刷”電路板。

應(yīng)用領(lǐng)域

   塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導(dǎo)體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、 其它各種鍍層厚度的測(cè)量及成分分析。

專業(yè)生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，，ROHS測(cè)量儀，，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀， ROHS檢測(cè)儀器，手持式等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。

鍍層測(cè)厚儀展廳