UHF RFID的系統(tǒng)由RFID讀寫器、RFID天線、RFID標(biāo)簽組成，具體如上圖所示，影響系統(tǒng)測試性能的因素主要有以下幾點：

1. 讀寫器發(fā)射功率

     讀寫器發(fā)射功率越大，讀寫距離相應(yīng)地也會增大。

2.讀寫器天線增益和波束寬度

天線增益越大，波束寬度越小，則讀寫距離越遠(yuǎn)，范圍越窄，讀取的范圍控制越好。

3.讀寫器和標(biāo)簽的靈敏度

標(biāo)簽芯片與讀寫器的靈敏度均能影響到讀寫距離，靈敏度越高，可讀寫距離就會越遠(yuǎn)。

4. 多標(biāo)簽數(shù)量

多標(biāo)簽環(huán)境下，單位時間內(nèi)RFID讀取的標(biāo)簽數(shù)量也會影響到讀寫器的多標(biāo)簽讀寫性能。

5.讀寫器對碰撞問題的處理算法

一般來說，標(biāo)簽存在以下兩種碰撞問題：

1、多標(biāo)簽碰撞：多個標(biāo)簽與一個讀寫器通訊時產(chǎn)生的碰撞，出現(xiàn)此種情況時可以通過調(diào)整讀寫器自身的防碰撞算法來解決。

2. 多讀寫器碰撞：多個讀寫器同時與一個標(biāo)簽通訊時產(chǎn)生的碰撞，通過將讀寫器設(shè)置成不同的session(通話)和標(biāo)簽進(jìn)行通信或者測試時關(guān)閉其他讀寫器即可解決。

6.標(biāo)簽粘貼物材質(zhì)

金屬和液體會對電磁波產(chǎn)生影響，需要采用特殊設(shè)計的抗金屬標(biāo)簽和抗液體標(biāo)簽。

7. 測試環(huán)境

RFID性能測試建議在空曠的環(huán)境中進(jìn)行，讀寫器天線與標(biāo)簽之間存在金屬或液體之類的障礙物、環(huán)境中存在與頻率接近的電磁干擾等都會影響測試性能。

首先要確認(rèn)測試環(huán)境中是否有金屬障礙物干擾，如金屬網(wǎng)，密集的金屬網(wǎng)會對UHF信號產(chǎn)生屏蔽作用，造成較大衰減，導(dǎo)致無法讀取標(biāo)簽信息。

其次，如果在貨物滿倉的庫房中則需要考慮貨物性質(zhì)（金屬、液體、服裝等）是否會影響電磁波，也需要避免多層堆放，同時RFID設(shè)備應(yīng)與其他物品保持距離，避免串讀。

以上是影響RFID系統(tǒng)測試性能的若干因素，如果您在測試過程中遇到性能受影響的情況，不妨對照檢查，希望能讓您的RFID測試過程更加順暢！

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