鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于X射線(xiàn)類(lèi)儀器的標(biāo)準(zhǔn)。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標(biāo)準(zhǔn)件都來(lái)自于美國(guó)Calmetrics公司。適用于費(fèi)希爾Fischer、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒MicroPioneer、精工Seiko、島津、電測(cè)、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線(xiàn)測(cè)厚儀）、β-ray（β射線(xiàn)測(cè)厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規(guī)格與尺寸。

　　鍍層標(biāo)準(zhǔn)片通常作用：　

　　1、用來(lái)對(duì)膜厚儀工作狀態(tài)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性進(jìn)行校驗(yàn)。在膜厚儀測(cè)試過(guò)程中對(duì)膜厚儀運(yùn)行過(guò)程中，確認(rèn)工作狀態(tài)。防止膜厚儀故障狀態(tài)時(shí)能*時(shí)間確認(rèn)?！?/p>

　　2、專(zhuān)業(yè)用于X射線(xiàn)測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)法，是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線(xiàn)的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)來(lái)測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率?！?/p>

　　軟件測(cè)試流程　　

　　一：參數(shù)設(shè)置　

　　1.峰位校準(zhǔn)參數(shù)，元素Ag通道552　　

　　1）開(kāi)機(jī)后預(yù)熱，步驟為：放入Ag元素片→產(chǎn)品程式→選擇→預(yù)熱→開(kāi)始?！　?/p>

　　2）：參數(shù)→峰位校準(zhǔn)參數(shù)→管流設(shè)置（0.1準(zhǔn)直器設(shè)置為3000左右，0.2準(zhǔn)直器設(shè)置為1000左右，根據(jù)不同的準(zhǔn)直器，設(shè)置合適的管流，保證Ag計(jì)數(shù)率在2200左右，）　　

　　3）峰位校正：點(diǎn)擊　　

　　→開(kāi)始→自動(dòng)進(jìn)入峰位校正程序，保證Ag峰通道在552，成功后進(jìn)入校正Cu元素界面，更換Cu元素片，峰通道在198，峰位校正成功。