SpecEL-2000是一款操作便捷的臺(tái)式光譜橢偏儀，主要用于測(cè)量平整和半透明的樣品，例如硅晶圓片和玻璃片等薄膜。

橢圓偏光技術(shù)是一種非接觸式、非破壞性，以光學(xué)技術(shù)測(cè)量表面薄膜特性的方法。其檢測(cè)原理是：當(dāng)一束偏振光經(jīng)過(guò)物體表面或界面時(shí)，其偏振極化狀態(tài)會(huì)被改變。而橢偏儀就是通過(guò)探測(cè)樣品表面的反射光，來(lái)測(cè)量此改變（即反射光和入射光的振幅及相位的改變量），以決定表面特性薄膜的光學(xué)常數(shù)（n、k值）及膜厚。

SpecEL-2000測(cè)試系統(tǒng)主要包括：寬帶光源、高性能線(xiàn)陣CCD光譜儀、導(dǎo)光器件、起偏器、樣品測(cè)試臺(tái)、檢偏器、光學(xué)增強(qiáng)元件及測(cè)量分析軟件。

SpecEL-2000適合于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)特性，通常應(yīng)用于有薄膜存在的地方，其應(yīng)用包括光學(xué)鍍膜和保護(hù)膜、聚合物、光刻材料、平面平板顯示、計(jì)算機(jī)讀寫(xiě)頭以及半導(dǎo)體集成電路制造的研究開(kāi)發(fā)。另外，在生物、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)及材料研究等方面有著廣泛的應(yīng)用。

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